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HP-S-X1 掃描探測系統(圖1)

HP-S-X1 掃描探測系統

HP-S-X1是高精度連續掃描測頭家族,支持各種標準測量模式。例如:
單點(diǎn)觸發(fā)測量,自定心測量和連續高速掃描測量;
HP-S-X1測頭利用不同的掃描模塊,可分別攜帶不同長(cháng)度的測針(含吸盤(pán)長(cháng)度),且其僅30mm直徑的緊湊結構允許測頭最大限度的接近被測工件,并可深入工件內部進(jìn)行測量。
HP-S-X1S: 豎直方向20~115mm,水平方向0~20mm
HP-S-X1H/HP-S-X1H: 豎直方向20~225mm,水平方向0~100mm
最小測針球徑可達0.1mm,更易測量微小特征