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HP-C-VE 光學(xué)測頭(圖1)

HP-L-10.6系統基于非接觸線(xiàn)激光掃描技術(shù),相對于傳統接觸式或者點(diǎn)激光式掃描系統,大大提高了數據采集速度。
獲有專(zhuān)利“飛點(diǎn)掃描”技術(shù)保證高精度的完整點(diǎn)云,對電腦配置無(wú)過(guò)高要求。使用簡(jiǎn)便,無(wú)需進(jìn)行繁瑣的軟硬件設置。
3種線(xiàn)寬、線(xiàn)密度工作方式可選,可針對現場(chǎng)實(shí)際情況進(jìn)行最佳選擇。
精度高;對于外部環(huán)境光要求低;對于高亮、高暗表面物體(如機械加工、拋光的表面),無(wú)需特殊處理或噴粉即可完成測量任務(wù)。