HP-C-VE測頭是用于CMM系統的光學(xué)影像測量系統。2D光感CCD整合發(fā)光二極管實(shí)現一定視圖區域內的工件測量，同時(shí)軟件的光強調整完善了測量區域的照明條件。在每一個(gè)視圖區域可以同時(shí)選擇一個(gè)或多個(gè)測量對象（如孔徑，邊界等）。擁有HP-C-VE系統可以同時(shí)實(shí)現多傳感器組合完成工件測量，并可支持多種測頭更換架，完成影像系統到觸測掃描系統的轉換。
